У нас вы можете посмотреть бесплатно How to GaN 08 – Understanding the Robustness of GaN Power Devices или скачать в максимальном доступном качестве, которое было загружено на ютуб. Для скачивания выберите вариант из формы ниже:
Если кнопки скачивания не
загрузились
НАЖМИТЕ ЗДЕСЬ или обновите страницу
Если возникают проблемы со скачиванием, пожалуйста напишите в поддержку по адресу внизу
страницы.
Спасибо за использование сервиса savevideohd.ru
This video will detail the critical aspects GaN power device reliability and show how testing gallium nitride devices to failure demonstrates robustness unmatched by silicon power MOSFETs. 0:00 Start 0:19 Survivor bias 1:50 Die and package stress tests 3:50 Stress - Voltage (Gate-Source) 9:04 Stress - Voltage (Drain-Source) 18:34 Stress - Current (Safe Operating Area) 20:33 Stress - Current (Short circuit) 25:50 Stress - Current (Pulsed current) 27:51 Stress - Mechanical (Shear test & backside pressure) 30:02 Field reliability of eGaN devices